X射线微纳米成像系统（物质区域中心）
2011-04-13 | 浏览次数: | 文章来源: | 【大 中 小】
| 设备名称 | X射线微纳米成像系统（物质区域中心） |
| 设备型号 | 非标 |
| 启用日期 | 2008-08-31 00:00:00.0 |
| 仪器金额 | 2.5E7 |
| 接收时的状态及验收记录 | 完好，验收合格 |
| 所属研究组 | 形貌成像实验站 |
| 仪器操作员 | 黄万霞 |
| 仪器操作员电话 | 88235990 |
| 仪器操作员EMail | huangwx@ihep.ac.cn |
| 仪器描述 | 可供实验的能量范围: 5～35 keV (微米分辨)；5～12keV (纳米分辨) ；样品处光斑尺寸: 30mm (H) × 13mm (V) (微米分辨)；20微米(H) × 20微米(V) (纳米分辨) |
| 仪器主要配件 | 非标 |
| 仪器主要功能 | 提供材料中微纳米级分辨的结构信息 |
| 分析项目说明 | 可以直观地分辨材料中微纳米级的微观结构 |
| 备注 | |
| 单时价格 | 0 |
| 共享状态 | 中心共享 |